Texas Instruments SCANSTA111MT/NOPB Адресуемый порт сканирования, 7-Bit, 3 → 3,6 В
Техническая документация
Характеристики
Brand
Texas InstrumentsКоличество входов элемента
7
Количество элементов на ИС
1
Тип монтажа
Поверхностный монтаж
Тип корпуса
TSSOP
Число контактов
48
Размеры
12.6 x 6.2 x 1.05мм
Длина
12.6мм
Ширина
6.2мм
Высота
1.05мм
Максимальное рабочее напряжение питания
3,6 В
Максимальная рабочая температура
+85 °C
Минимальное рабочее напряжение питания
3 В
Минимальная рабочая температура
-40 °C
Диапазон рабочего напряжения питания
3 → 3,6 В
Диапазон рабочих температур
-40 → +85 °C
Информация о товаре
Addressable JTAG Port, Texas Instruments
The Texas Instruments SCANSTA111 extends the IEEE Std. 1149.1 test bus into a multi-drop test bus environment with the advantages of improved test throughput, and the ability to remove a board from the system whilst retaining test access to the remaining system modules. Each device supports up to three local IEEE 1149.1 scan rings which can be serially combined or accessed individually. A 32-bit TCK counter enables built-in self-test operations to be performed on one port while other scan chains are simultaneously tested.
Информация о наличии не успела загрузиться
Пожалуйста, перезагрузите страницу (ctrl+F5)
P.O.A.
38
P.O.A.
38
Техническая документация
Характеристики
Brand
Texas InstrumentsКоличество входов элемента
7
Количество элементов на ИС
1
Тип монтажа
Поверхностный монтаж
Тип корпуса
TSSOP
Число контактов
48
Размеры
12.6 x 6.2 x 1.05мм
Длина
12.6мм
Ширина
6.2мм
Высота
1.05мм
Максимальное рабочее напряжение питания
3,6 В
Максимальная рабочая температура
+85 °C
Минимальное рабочее напряжение питания
3 В
Минимальная рабочая температура
-40 °C
Диапазон рабочего напряжения питания
3 → 3,6 В
Диапазон рабочих температур
-40 → +85 °C
Информация о товаре
Addressable JTAG Port, Texas Instruments
The Texas Instruments SCANSTA111 extends the IEEE Std. 1149.1 test bus into a multi-drop test bus environment with the advantages of improved test throughput, and the ability to remove a board from the system whilst retaining test access to the remaining system modules. Each device supports up to three local IEEE 1149.1 scan rings which can be serially combined or accessed individually. A 32-bit TCK counter enables built-in self-test operations to be performed on one port while other scan chains are simultaneously tested.