Peak Electronic Design SCR100 Тестер деталей и ИС

Код товара RS: 666-0904Бренд: Peak Electronic DesignПарт-номер производителя: SCR100
brand-logo
Просмотреть все в Приборы для испытания компонентов

Техническая документация

Характеристики

Brand

Peak Electronic Design

Тип тестера

Тиристор, симистор

Тип дисплея

Жидкокристаллический

Тип батарей

A23

Источник питания

Батарея

Высота

20мм

Длина

103мм

Максимальная рабочая температура

+50°C

Ширина

70мм

Минимальная рабочая температура

0°C

Model Number p

SCR100

Страна происхождения

United Kingdom

Информация о товаре

Thyristor and Triac Analyser

The Atlas SCR will identify the device type, display the pinout and measure gate sensitivity.

Информация о наличии не успела загрузиться

Пожалуйста, перезагрузите страницу (ctrl+F5)

Информация о наличии не успела загрузиться

тг 54 082,53

Each (ex VAT)

Peak Electronic Design SCR100 Тестер деталей и ИС

1

Доступно в кратности 1
1тг 54 082,53
2тг 108 165,06
3тг 162 247,59
4тг 216 330,12
5тг 270 412,65
6тг 324 495,18
7тг 378 577,71
8тг 432 660,24
9тг 486 742,77
10тг 540 825,30
11тг 594 907,83
12тг 648 990,36
13тг 703 072,89
14тг 757 155,42
15тг 811 237,95

тг 54 082,53

Each (ex VAT)

Peak Electronic Design SCR100 Тестер деталей и ИС
Информация о наличии не успела загрузиться

1

Доступно в кратности 1
1тг 54 082,53
2тг 108 165,06
3тг 162 247,59
4тг 216 330,12
5тг 270 412,65
6тг 324 495,18
7тг 378 577,71
8тг 432 660,24
9тг 486 742,77
10тг 540 825,30
11тг 594 907,83
12тг 648 990,36
13тг 703 072,89
14тг 757 155,42
15тг 811 237,95

Техническая документация

Характеристики

Brand

Peak Electronic Design

Тип тестера

Тиристор, симистор

Тип дисплея

Жидкокристаллический

Тип батарей

A23

Источник питания

Батарея

Высота

20мм

Длина

103мм

Максимальная рабочая температура

+50°C

Ширина

70мм

Минимальная рабочая температура

0°C

Model Number p

SCR100

Страна происхождения

United Kingdom

Информация о товаре

Thyristor and Triac Analyser

The Atlas SCR will identify the device type, display the pinout and measure gate sensitivity.